基本信息
| 标准名称： | 半导体发光二极管芯片测试方法 |
| 英文名称： | Measurement methods for chips of light emitting diodes |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术 >> 半导体分立器件 >> 微波、毫米波二、三极管 |
| ICS分类： | 电子学 >> 光电子学、激光设备 |
| 发布部门： | 工业和信息化部 |
| 发布日期： | 2009-11-17 |
| 实施日期： | 2010-01-01 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | |
| 主管部门： | 工业和信息化部电子工业标准化研究所 |
| 归口单位： | 工业和信息化部电子工业标准化研究所 |
| 起草单位： | 中国光学光电子行业协会光电器件分会、厦门华联电子有限公司、杭州浙大三色仪器有限公司、深圳淼浩高新科技有限公司 |
| 起草人： | 鲍超、胡爱华、牟同升、李明远、彭万华 |
| 出版社： | 电子工业出版社 |
| 出版日期： | 2010-01-01 |
| 页数： | 11页 |
适用范围
主要规定了电学参数、热学参数、色度学参数以及静电放电敏感性测试等主要性能参数的测试方法。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类： 电子元器件与信息技术 半导体分立器件 微波 毫米波二 三极管 电子学 光电子学 激光设备